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應用介紹
【行業(yè)】SEMI
【設備】測試分選機
【用途】用于將IC芯片按照要求進行分類和分選
應用場景
tray盤內IC芯片的浮起檢測。
解決課題
1、需要滿足設備的小型化設計，達到省空間的目的。
2、實現(xiàn)對于芯片1mm浮起的穩(wěn)定檢測。
價值提案
核心產(chǎn)品：智能激光傳感器 E3NC
價值點1.
備有網(wǎng)絡型放大器，方便導入并監(jiān)控傳感器實時狀態(tài)。同時，放大器采用分離設計，既保證了檢測頭的體積小，也可在不同環(huán)境下調整放大器設置。
價值點2.
1級激光光源，1m檢測距離時的2mm光斑大小，確保IC芯片微小浮起的穩(wěn)定檢測。
相關產(chǎn)品
智能激光傳感器E3NC
https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3316/
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（來源：歐姆龍）
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